圖2：四線測(cè)量方法能減少引腳電阻導(dǎo)致的誤差。

　　結(jié)點(diǎn)溫度測(cè)試方法

　　在這個(gè)測(cè)試方法中，待測(cè)器件(DUT)[device under test]被放置在溫度試驗(yàn)箱內(nèi)并與驅(qū)動(dòng)設(shè)備和測(cè)量設(shè)備相連。驅(qū)動(dòng)設(shè)備可能是可編程電流源和伏特計(jì)，但其它儀器可以同時(shí)提供電流和測(cè)量電壓，這些儀器通常被稱(chēng)為源測(cè)量單元(SMU)，它們可大大簡(jiǎn)化測(cè)量?jī)x器(圖1)。 接下來(lái)，采用四線測(cè)量方法或者Kelvin測(cè)量方法將SMU與器件相連接。通過(guò)感應(yīng)DUT周?chē)皇荢MU輸入端的電壓，四線電壓測(cè)量能降低電壓測(cè)量中由引線電阻導(dǎo)致的誤差。圖2是四線測(cè)量的詳細(xì)連接圖。將DUT放置在環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)，并將該試驗(yàn)箱設(shè)定到初始溫度。初始點(diǎn)通常在25°C下測(cè)量，然后讓DUT達(dá)到熱平衡?？赏ㄟ^(guò)實(shí)驗(yàn)來(lái)確定達(dá)到熱平衡所需的停靠時(shí)間(dwell time)，但對(duì)于大多數(shù)封裝來(lái)說(shuō)，10分鐘應(yīng)該足夠。

　　一旦結(jié)點(diǎn)達(dá)到熱平衡，就提供DUT一個(gè)持續(xù)時(shí)間短的電流，并測(cè)量壓降。電流脈沖的持續(xù)時(shí)間和振幅非常重要，功率較大(電流過(guò)大或者脈沖過(guò)長(zhǎng))可能會(huì)使結(jié)點(diǎn)發(fā)熱，從而使結(jié)果產(chǎn)生偏差。

　　許多情況下，待測(cè)結(jié)點(diǎn)的為硅或者復(fù)合二極管。對(duì)于這些類(lèi)型的器件，以幾 毫安的驅(qū)動(dòng)電流和1ms的源電流為試驗(yàn)起點(diǎn)比較好。如果還不太確定，則利用具有極短脈沖(小于1ms)的源，用試驗(yàn)的方法確定結(jié)點(diǎn)的自發(fā)熱。然后改變脈沖寬度并比較每個(gè)脈沖持續(xù)時(shí)間的電壓進(jìn)行試驗(yàn)。1mV至2mV的電壓差通常表示結(jié)點(diǎn)溫度有1°C的變化，這個(gè)測(cè)量電壓是TJ1 (25°C )溫度下的VF1。然后溫度升高到一個(gè)更高的值(例如50°C)，讓DUT達(dá)到熱平衡，并再次給予電流脈沖。這個(gè)溫度下的電壓被標(biāo)為T(mén)J2溫度(此例中為50°C )下的VF2。

　　采用多個(gè)不同的值重復(fù)這些步驟，然后繪制電壓與結(jié)點(diǎn)溫度的關(guān)系圖(圖3)。

圖3：結(jié)點(diǎn)溫度與正向壓降的線性關(guān)系。