3. 焊點(diǎn)燒毀

　　有些情況下，燈珠死燈不一定是燈珠本身的問題，也有可能是使用的電源供電引起的。

　　3.1　案例

　　失效樣品是是仿流明LED燈珠，該LED燈珠使用一段時間后出現(xiàn)死燈。對多個失效燈珠溶膠后進(jìn)行檢查，均發(fā)現(xiàn)失效燈珠芯片2個P電極金線焊點(diǎn)和附近的電極圖形線路已經(jīng)燒毀，2個N電極金線焊點(diǎn)、電極圖形線路和支架上的4個第二焊點(diǎn)均保持完好，未發(fā)現(xiàn)有燒毀或斷裂的情況，如下圖15和圖16所示。

　　很明顯，芯片P電極燒毀是造成燈珠死燈的直接原因。那么，是什么原因?qū)е滦酒琍電極燒毀的呢?接下來，我們做了如下分析。

　　我們隨機(jī)選取了幾顆能夠正常點(diǎn)亮的燈珠樣品進(jìn)行模擬高電壓沖擊實(shí)驗(yàn)，對每顆燈珠單獨(dú)施加20 V瞬間高電壓。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，高電壓沖擊后燈珠瞬間出現(xiàn)死燈，溶膠后檢查發(fā)現(xiàn)也是芯片上的P電極線路燒毀導(dǎo)致開路死燈，如圖17和圖18所示。

　　通過上述的檢查和驗(yàn)證試驗(yàn)，可以推斷造成客戶這批燈珠死燈的根本原因是燈珠使用過程中突波電流過大，因芯片P區(qū)的電阻值較N區(qū)高，當(dāng)電流集中通過P電極，P電極最先燒毀并導(dǎo)致開路死燈。燈珠使用過程中出現(xiàn)突波電流(或電壓)過大，很可能與燈具驅(qū)動電源在啟動或關(guān)閉時的突波電流有關(guān)，也有可能是芯片P電極打線有瑕疵，導(dǎo)致P電極焊點(diǎn)出現(xiàn)瞬間接觸不良情況，當(dāng)有多顆LED串聯(lián)時會累積高壓在接觸不良接點(diǎn)上引起瞬間高電流造成燈珠焊線燒毀及封膠燒黑。