GBT 15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法
2011-01-18
作者：
來源：新世紀(jì)LED網(wǎng)
瀏覽量：
網(wǎng)友評論：
0
條
摘要： 本部分適用于光電子器件的測試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。
查看全文，請點擊下載：
凡本網(wǎng)注明“來源：阿拉丁照明網(wǎng)”的所有作品，版權(quán)均屬于阿拉丁照明網(wǎng)，轉(zhuǎn)載請注明。
凡注明為其它來源的信息，均轉(zhuǎn)載自其它媒體，轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點及對其真實性負(fù)責(zé)。
凡注明為其它來源的信息，均轉(zhuǎn)載自其它媒體，轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點及對其真實性負(fù)責(zé)。
最新評論
用戶名： 密碼：
