Optek 建立VLED實(shí)驗(yàn)室測(cè)試、對(duì)比LED及其組件
摘要: 2006年11月22日, OPTEK Technology 開發(fā)出獨(dú)立的可見LED(VLED)實(shí)驗(yàn)室,用以幫助客戶進(jìn)行SSL應(yīng)用方案設(shè)計(jì),并邀請(qǐng)客戶對(duì)此測(cè)試進(jìn)行直接驗(yàn)證。
2006年11月22日, OPTEK Technology 開發(fā)出獨(dú)立的可見LED(VLED)實(shí)驗(yàn)室,用以幫助客戶進(jìn)行SSL應(yīng)用方案設(shè)計(jì),并邀請(qǐng)客戶對(duì)此測(cè)試進(jìn)行直接驗(yàn)證。
LED實(shí)驗(yàn)室可將傳統(tǒng)白熾燈、熒光燈等照明方案與SSL設(shè)計(jì)做對(duì)比,或?qū)⑼怢ED和組件并放在相同情況下測(cè)試,以得到可靠的比較數(shù)據(jù),并可提供紫外和可見波光譜分析。據(jù)OPTEK所言,實(shí)驗(yàn)室可為定制組件提供詳細(xì)的數(shù)據(jù)以驗(yàn)證整個(gè)陣列的光輸出,而不是精確性較低的各元件輸出值相加法。除此之外,實(shí)驗(yàn)室還可為穩(wěn)定性測(cè)試提供終端數(shù)據(jù)測(cè)試(包括全失效分析)。
OPTEK的可見LED實(shí)驗(yàn)設(shè)備包括:熱成像照相機(jī),用以提供數(shù)據(jù)、最優(yōu)化熱量管理設(shè)計(jì),延長(zhǎng)大功率LED組件的使用壽命并提高光輸出;用于失效分析的掃描電子顯微鏡(加有PGT X光分析儀);檢驗(yàn)色彩和色調(diào)的光通量、波長(zhǎng)測(cè)試器;用以測(cè)試各種LED組件的放射和光度性能的分光計(jì)系統(tǒng)(最高可測(cè)0.2米的光引擎)。分光計(jì)系統(tǒng)還包括測(cè)角器、 CIE 127 Publication Condition A、B管和6英寸累計(jì)球。(編輯:ZQY)
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