集成電路使用高低溫試驗箱

隨著數(shù)字經(jīng)濟的發(fā)展，集成電路工藝在尺寸、集成度、性能等方面都有了長足的進步。為降低成本、提高性能，新材料、新工藝、新器件結(jié)構(gòu)被廣泛應(yīng)用于集成電路。這些新技術(shù)對保障和提升集成電路的可靠性提出了很大的挑戰(zhàn)。

按照目前普遍采用的國際標(biāo)準(zhǔn)，一般電器的使用壽命應(yīng)超過10年。很明顯，我們不能把一款產(chǎn)品放在普通的情況下，10年后才能對該產(chǎn)品的可靠性進行評判。為此，通常將試樣置于高壓、大電流、高濕度、高溫、大氣壓等環(huán)境中進行試驗，并基于其破壞機制及模型推斷其在常規(guī)環(huán)境中的使用壽命。

冷熱沖擊試驗是用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，它適用于電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等多種材料，它們在溫度劇烈變化的環(huán)境下的適應(yīng)性。在開發(fā)過程中，它可以用來找出產(chǎn)品的設(shè)計、制造過程中存在的問題，有時還可以用來篩查環(huán)境因素，排除早期失效。測試的嚴格程度由高、低、停留時間、變溫時間、周期等因素決定。 

宏展高低溫冷熱沖擊試驗：High And LowTemperature Shock Test Chamber簡介：本試驗箱適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗?zāi)軌蛄私庠囼灅悠芬淮位蜻B續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And LowTemperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)：

高低溫冷熱沖擊試驗TS2系列

性 能 參 數(shù)     ：

1.高溫室      溫度暴露范圍：+60～＋200℃、預(yù)熱溫度上限：200℃、升溫時間      ：R.T.→＋200℃約40min

2.低溫室      溫度暴露范圍：0～-75℃、 預(yù)冷溫度下限：-75℃、 降溫時間：R.T.→-70℃約60min

3.提籃   溫度范圍：-65～150℃、溫度波動度：≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）、溫度偏差：≤±2℃（-65℃～+150℃）

4.轉(zhuǎn)換時間：≤5S

5.溫度恢復(fù)時間≤5min

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